欢迎进入自动化信息网站！请登录 免费注册
合作单位:成都工业自动化科技服务平台 | 四川省自动化与仪器仪表学会 | 成都自动化研究会 | RSS
变 频 器| P L C| 现场总线| 工业软件| 传动与控制| 以太网通讯| 人机界面| 伺服系统| 传 感 器| PC-BASED| 远程测控| 仪器仪表| 控制元件| 电源与配电| 流体控制| 嵌入式系统| 控制系统| 机柜箱体| 机器人| 数据采集| 工业安全| 数传测控| 机器视觉| 电力自动化| 执行机构| 电力电子| LED| 半导体|
当前位置：网站首页 > 技术中心 > 技术研讨会
资料下载排行榜
编辑推荐
使用PXI模块化仪器完成超低功耗ASIC设计的结构和内存测试
  • 资料提供：
    美国国家仪器有限公司
  • 资料作者：
    11
  • 所属栏目：
    技术研讨会
  • 上传时间：
    2012-03-30
  • 文档说明：

    使用PXI模块化仪器完成超低功耗ASIC设计的结构和内存测试

    Holst Centre是一个独立的研发中心，其超低功耗数字信号处理（DSP）部门致力于无线、电池供电设备的超低功耗芯片设计研究。他们使用NI LabVIEW软件和NI PXI Express高速数字I/O设备开发自动测试系统，大大减少了芯片测试的时间。
  • 下载点数：
    0点
  • 点击量：
    4455

  • 请登陆 立即注册成为自动化信息网会员
版权所有：成都西星科技资讯有限责任公司
备案号：蜀ICP备11027966号-1