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使用PXI模块化仪器完成超低功耗ASIC设计的结构和内存测试
资料提供:
美国国家仪器有限公司
资料作者:
11
所属栏目:
技术研讨会
上传时间:
2012-03-30
文档说明:
使用PXI模块化仪器完成超低功耗ASIC设计的结构和内存测试
Holst Centre是一个独立的研发中心,其超低功耗数字信号处理(DSP)部门致力于无线、电池供电设备的超低功耗芯片设计研究。他们使用NI LabVIEW软件和NI PXI Express高速数字I/O设备开发自动测试系统,大大减少了芯片测试的时间。
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下载点数:
0点
点击量:
5682
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