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使用PXI模块化仪器完成超低功耗ASIC设计的结构和内存测试
  • 资料提供：
    美国国家仪器有限公司
  • 资料作者：
    11
  • 所属栏目：
    技术研讨会
  • 上传时间：
    2012-03-30
  • 文档说明：

    使用PXI模块化仪器完成超低功耗ASIC设计的结构和内存测试

    Holst Centre是一个独立的研发中心，其超低功耗数字信号处理（DSP）部门致力于无线、电池供电设备的超低功耗芯片设计研究。他们使用NI LabVIEW软件和NI PXI Express高速数字I/O设备开发自动测试系统，大大减少了芯片测试的时间。
  • 下载点数：
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  • 点击量：
    4885

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